| ： | SNJ54BCT8374AFK |
|---|---|
| ： | 专业逻辑 |
| ： | Texas Instruments |
| ： | SCAN TEST DEVIC |
| ： | - |
| ： | 管子 |
| ： | 100 |
| ： | 1 |
| 类型 | 描述 |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 系列 | 54BCT |
| 包裹 | 管子 |
| 产品状态 | ACTIVE |
| 包装/箱 | 28-CLCC |
| 安装类型 | Surface Mount |
| 位数 | 8 |
| 逻辑类型 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 工作温度 | -55°C ~ 125°C |
| 电源电压 | 4.5V ~ 5.5V |
| 供应商设备包 | 28-LCCC (11.43x11.43) |
